Рентгеновский дифрактометр (XRD)PANalytical
X’Pert PRO MPD
Рентгеновский дифрактометр (XRD)
PANalytical
X’Pert PRO MPD
Фиксированная цена без учета НДС
13 500 €
Состояние
Бывшее в употреблении
Местоположение
Borken 

Показать изображения
Показать карту
Данные о машине
- Описание оборудования:
- Рентгеновский дифрактометр (XRD)
- Производитель:
- PANalytical
- Модель:
- X’Pert PRO MPD
- Состояние:
- б/у
Цена и местонахождение
Фиксированная цена без учета НДС
13 500 €
- Местоположение:
- Einsteinstraße 8a, 46325 Borken, Deutschland

Звонок
Детали предложения
- Код объявления:
- A19531791
- Справочный номер:
- 24688
- Последнее обновление:
- в 10.07.2025
Описание
PANalytical
PANalytical X’Pert PRO MPD рентгеновский дифрактометр (XRD)
Выписка из сервисного отчета:
Прибор: PANalytical X’Pert PRO MPD
Составлен: 07.07.2021
Выполненные работы:
- Установка и ввод системы в эксплуатацию
- Подключение внешних коммуникаций
- Фаза прогрева
- Полная юстировка гониометра и других компонентов
- Проведение технического обслуживания, включая замену дефектных деталей
Использованные запасные части:
L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 аккумулятор Ni-Cd
Вентилятор для блока X-Celerator
Фильтр для воды
Двигатель PW3050
(«Прибор не был протестирован в нашей лаборатории»)
X’Pert PRO MPD – это универсальный и высокопроизводительный рентгеновский дифрактометр (XRD) для структурной характеристики кристаллических материалов — идеально подходит как для фундаментальных исследований, так и для рутинных промышленных и университетских приложений. Благодаря модульной конструкции, быстрой регистрации данных, контролю температуры и атмосферы он одинаково эффективен для рутинного анализа и сложных in-situ экспериментов.
Основные особенности:
Возможность различных геометрий измерения:
- Отражение в режиме Брагга-Брентано (θ–2θ)
- Трансмиссионная геометрия для порошков в капиллярах
- Дополнительно SAXS (рассеяние рентгеновских лучей под малыми углами) для наноструктур
Источники излучения и детекторы:
- Чаще всего медный анод (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å)
- Детектор X’Celerator (1D, ультрабыстрый) для параллельного сбора данных
Модульная система с технологией PreFIX:
- Быстрая смена оптики и держателей образцов без необходимости перекалибровки
In-situ измерения при высоких температурах:
- Измерения до примерно 1200°C
- Контролируемая атмосфера: воздух, азот, кислород (окраниченно восстановительная)
Типичные применения:
- Фазовый анализ и количественная ритвельд-анализ
- Определение размера кристаллитов, микродеформаций, собственных напряжений
- In-situ исследование фазовых переходов, окисления, кристаллизации и др.
- SAXS-измерения для анализа наночастиц, пористых структур
- Широкий спектр образцов: порошки, тонкие пленки, керамика, фармацевтика, катализаторы и др.
Технические характеристики (типовые):
Параметр / спецификация
Диапазон углов (2θ): примерно 0,5°–150°
Шаг измерения: до 0,002° и тоньше
Гониометр: вертикальный, 0–0, радиус около 240 мм
Диапазон температур: от комнатной до примерно 1200°C
Атмосфера: воздух, N₂, O₂ (ограниченно восстановительная)
Детекторы: X’Celerator (1D), счетчики пропорционального типа
Распространение и примеры использования:
X’Pert PRO MPD эксплуатируется по всему миру, например:
Университеты (ETH Цюрих, ТУ Дрезден, Венский университет)
Научно-исследовательские институты (например, Институт Макса Планка, ICN2, IS2M)
Промышленность (разработка материалов, фармацевтика, химия)
Состояние: б/у
Tjdpfx Afowycatj Def
Комплект поставки: (см. фото)
(Возможны изменения и ошибки в технических данных! Все данные без гарантий!)
По всем вопросам звоните – мы с радостью ответим.
Объявление было переведено автоматически, в связи с чем могут иметь место некоторые ошибки перевода.
PANalytical X’Pert PRO MPD рентгеновский дифрактометр (XRD)
Выписка из сервисного отчета:
Прибор: PANalytical X’Pert PRO MPD
Составлен: 07.07.2021
Выполненные работы:
- Установка и ввод системы в эксплуатацию
- Подключение внешних коммуникаций
- Фаза прогрева
- Полная юстировка гониометра и других компонентов
- Проведение технического обслуживания, включая замену дефектных деталей
Использованные запасные части:
L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 аккумулятор Ni-Cd
Вентилятор для блока X-Celerator
Фильтр для воды
Двигатель PW3050
(«Прибор не был протестирован в нашей лаборатории»)
X’Pert PRO MPD – это универсальный и высокопроизводительный рентгеновский дифрактометр (XRD) для структурной характеристики кристаллических материалов — идеально подходит как для фундаментальных исследований, так и для рутинных промышленных и университетских приложений. Благодаря модульной конструкции, быстрой регистрации данных, контролю температуры и атмосферы он одинаково эффективен для рутинного анализа и сложных in-situ экспериментов.
Основные особенности:
Возможность различных геометрий измерения:
- Отражение в режиме Брагга-Брентано (θ–2θ)
- Трансмиссионная геометрия для порошков в капиллярах
- Дополнительно SAXS (рассеяние рентгеновских лучей под малыми углами) для наноструктур
Источники излучения и детекторы:
- Чаще всего медный анод (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å)
- Детектор X’Celerator (1D, ультрабыстрый) для параллельного сбора данных
Модульная система с технологией PreFIX:
- Быстрая смена оптики и держателей образцов без необходимости перекалибровки
In-situ измерения при высоких температурах:
- Измерения до примерно 1200°C
- Контролируемая атмосфера: воздух, азот, кислород (окраниченно восстановительная)
Типичные применения:
- Фазовый анализ и количественная ритвельд-анализ
- Определение размера кристаллитов, микродеформаций, собственных напряжений
- In-situ исследование фазовых переходов, окисления, кристаллизации и др.
- SAXS-измерения для анализа наночастиц, пористых структур
- Широкий спектр образцов: порошки, тонкие пленки, керамика, фармацевтика, катализаторы и др.
Технические характеристики (типовые):
Параметр / спецификация
Диапазон углов (2θ): примерно 0,5°–150°
Шаг измерения: до 0,002° и тоньше
Гониометр: вертикальный, 0–0, радиус около 240 мм
Диапазон температур: от комнатной до примерно 1200°C
Атмосфера: воздух, N₂, O₂ (ограниченно восстановительная)
Детекторы: X’Celerator (1D), счетчики пропорционального типа
Распространение и примеры использования:
X’Pert PRO MPD эксплуатируется по всему миру, например:
Университеты (ETH Цюрих, ТУ Дрезден, Венский университет)
Научно-исследовательские институты (например, Институт Макса Планка, ICN2, IS2M)
Промышленность (разработка материалов, фармацевтика, химия)
Состояние: б/у
Tjdpfx Afowycatj Def
Комплект поставки: (см. фото)
(Возможны изменения и ошибки в технических данных! Все данные без гарантий!)
По всем вопросам звоните – мы с радостью ответим.
Объявление было переведено автоматически, в связи с чем могут иметь место некоторые ошибки перевода.
Поставщик
Примечание: Зарегистрируйтесь бесплатно или войдите в систему, чтобы получить доступ ко всей информации.
Регистрация: 2012
Отправить заявку
Телефон & Факс
+49 2861 ... объявления
Вам могут быть интересны и еще и эти объявления.
Малое объявление
Dinklage
5 400 km
Разделитель катушек Разделитель катушек Гильотина
KlankeRGS25A
KlankeRGS25A
Малое объявление
Zheng Zhou Shi
3 029 km
рулонная формовочная линия
Rod ball mill / Rod Grinding MillFor Sand and mining beneficiation plant
Rod ball mill / Rod Grinding MillFor Sand and mining beneficiation plant
Малое объявление
Zheng Zhou Shi
3 029 km
Цементная мельница, завод по измельчению клинкера
Clinker grinding mill / cement ball millcement grinding with air classifier
Clinker grinding mill / cement ball millcement grinding with air classifier
Малое объявление
Hamburg
5 243 km
Система рентгеновского контроля
AMTECXRI 410HS
AMTECXRI 410HS
Малое объявление
Borken
5 521 km
Рентгенофлуоресцентный анализатор
Oxford InstrumentsX-Strata 960
Oxford InstrumentsX-Strata 960
Малое объявление
Braak
5 227 km
3D AOI-рентген
GÖPELX Line 3D AOI/AXI
GÖPELX Line 3D AOI/AXI
Малое объявление
Германия
5 427 km
Полностью автоматическая система рентгеновского контроля
AnritsuXR 75 (KXS7522AVCLE)
AnritsuXR 75 (KXS7522AVCLE)
Малое объявление
Borken
5 521 km
Измерение толщины покрытия методом рентгенофлуоресцентного анализа
Helmut Fischer FischerscopeXDL- XYmZ
Helmut Fischer FischerscopeXDL- XYmZ
Малое объявление
Remscheid
5 567 km
неизвестный компонент
unbekanntCTX125 X-RAY System Kontrolleinheit
unbekanntCTX125 X-RAY System Kontrolleinheit
Ваше объявление было успешно удалено
Произошла ошибка









































































