Компонент

unbekannt CTX125 X-RAY System Kontrolleinheit

Год выпуска: 2025, состояние: новый, Рентгеновская досмотровая система для упаковок среднего размера, мешков. Подходит для обнаружения инородных тел из металла, стекла, камня, пластика и т. д. в пищевых и непищевых товарах. - Технические характеристики: Ширина конвейерной ленты: 410 мм; Точность обнаружения: Pb от Ø 0,2 мм, Fe от Ø 0,28 мм, SUS от Ø 0,28 мм, неметаллические предметы, такие как камень, стекло, от Ø 1,2 мм; Мощность рентгеновского излучения: 80 кВп, 1,25 мА; Разрешение детектора: 0,4 мм; Рентгеновское излучение: < 1 мкЗв/ч; Высота конвейерной ленты: 850 ± 30 мм; Скорость движения конвейерной ленты (в зависимости от продукта): 10 – 100 м/мин; Пользовательский интерфейс: сенсорный экран 15"; Программное обеспечение: intellisens®X-ray; Рабочая температура: 5–35 °C; Система выброса: опционально в соответствии с требованиями; Питание: 220 В переменного тока, 50/60 Гц; Размеры системы: Д900xШ920xВ1825 мм; Вес: 350 кг. Pgedev Nm Inepfx Al Hjk Обратите внимание, что наши новые цены зачастую ниже обычных цен на бывшие в употреблении товары. Просто спросите и расскажите нам о своей задаче по упаковке. - Обычно на складе имеется в наличии 30–50 различных новых машин. Кроме того, у нас очень короткие сроки поставки — около 3 недель для машин, изготавливаемых по спецификациям заказчика. - Все машины поставляются с полной гарантией.

Состояние: Дефектный донор на запчасти (б/у), Oxford Instruments Pjdohaapfspfx Al Hsgk Рентгенофлуоресцентный анализатор Oxford Instruments X-Strata 960 – донор запчастей / неисправен Описание товара: Продаётся бывший в употреблении рентгенофлуоресцентный анализатор модели Oxford Instruments X-Strata 960. Устройство поступило после демонтажа лаборатории и предлагается исключительно как донор запчастей или для ремонта. Проверка работоспособности не проводилась – по условиям продажи прибор считается неисправным. Технические характеристики – Oxford Instruments X-Strata 960 (без обязательств) Параметр Описание Модель X-Strata 960 Производитель Oxford Instruments Аналитический метод Рентгенофлуоресцентный анализ (XRF) Области применения Измерение толщины слоёв, анализ материалов, контроль драгоценных металлов Геометрия измерения С облучением сверху или снизу (в зависимости от конфигурации) Источник излучения Рентгеновская трубка (например, с родиевым анодом), мощность 50–100 Вт Детектор Пропорциональный счётчик или кремниевый дрейфовый детектор (SDD), в зависимости от исполнения Диапазон измерения толщины слоёв около 0,005 – 50 мкм (зависит от материала) Размер пятна от 15 мкм до 1 мм (зависит от коллиматора) Ось Z С моторизированным перемещением, до 230 мм по высоте измерения Измерительная камера (Ш × Г × В) примерно 580 × 510 × 230 мм Столик для образцов Ручной или моторизованный (200 × 200 мм или больше, в зависимости от комплектации) Система фокусировки Оптический / лазерный фокус, частично автоматический Операционная система Встроенный промышленный ПК с ПО для анализа на базе Windows Питание 220–240 В / 50–60 Гц / около 500–800 Вт Вес оборудования около 150–200 кг (в зависимости от исполнения) Состояние: бывший в употреблении / неисправен / на запчасти Комплектация: согласно фотографиям – без аксессуаров и ПО Важная информация: Продажа исключительно как неисправное устройство без гарантии работоспособности. Товар предлагается как донор запчастей или для ремонта. Гарантия на работоспособность, комплектность или технические параметры не предоставляется. Коммерческая продажа с исключением какой-либо ответственности за скрытые недостатки в соответствии с § 447 BGB (продажа с доставкой). Комплектация: Oxford Instruments X-Strata 960 Все компоненты, видимые на фотографиях Дополнительные детали, принадлежности или документация не входят в комплект, если не указано иное. Доставка и самовывоз: Самовывоз возможен и предпочтителен (г. Боркен) Доставка по согласованию возможна. (Возможны изменения и ошибки в технических данных и описаниях!) С радостью ответим на дополнительные вопросы по телефону.

Состояние: б/у, PANalytical PANalytical X’Pert PRO MPD рентгеновский дифрактометр (XRD) Выписка из сервисного отчета: Прибор: PANalytical X’Pert PRO MPD Составлен: 07.07.2021 Выполненные работы: - Установка и ввод системы в эксплуатацию - Подключение внешних коммуникаций - Фаза прогрева - Полная юстировка гониометра и других компонентов - Проведение технического обслуживания, включая замену дефектных деталей Использованные запасные части: L 3.6V NC/U3 R15.0X52.0 аккумулятор Ni-Cd Вентилятор для блока X-Celerator Фильтр для воды Двигатель PW3050 («Прибор не был протестирован в нашей лаборатории») X’Pert PRO MPD – это универсальный и высокопроизводительный рентгеновский дифрактометр (XRD) для структурной характеристики кристаллических материалов — идеально подходит как для фундаментальных исследований, так и для рутинных промышленных и университетских приложений. Благодаря модульной конструкции, быстрой регистрации данных, контролю температуры и атмосферы он одинаково эффективен для рутинного анализа и сложных in-situ экспериментов. Основные особенности: Возможность различных геометрий измерения: - Отражение в режиме Брагга-Брентано (θ–2θ) - Трансмиссионная геометрия для порошков в капиллярах - Дополнительно SAXS (рассеяние рентгеновских лучей под малыми углами) для наноструктур Источники излучения и детекторы: - Чаще всего медный анод (Cu-Kα, λ ≈ 1,54 Å) - Детектор X’Celerator (1D, ультрабыстрый) для параллельного сбора данных Модульная система с технологией PreFIX: - Быстрая смена оптики и держателей образцов без необходимости перекалибровки In-situ измерения при высоких температурах: - Измерения до примерно 1200°C - Контролируемая атмосфера: воздух, азот, кислород (окраниченно восстановительная) Типичные применения: - Фазовый анализ и количественная ритвельд-анализ - Определение размера кристаллитов, микродеформаций, собственных напряжений - In-situ исследование фазовых переходов, окисления, кристаллизации и др. - SAXS-измерения для анализа наночастиц, пористых структур - Широкий спектр образцов: порошки, тонкие пленки, керамика, фармацевтика, катализаторы и др. Технические характеристики (типовые): Параметр / спецификация Диапазон углов (2θ): примерно 0,5°–150° Шаг измерения: до 0,002° и тоньше Гониометр: вертикальный, 0–0, радиус около 240 мм Диапазон температур: от комнатной до примерно 1200°C Атмосфера: воздух, N₂, O₂ (ограниченно восстановительная) Детекторы: X’Celerator (1D), счетчики пропорционального типа Pjdswycatepfx Al Hsgk Распространение и примеры использования: X’Pert PRO MPD эксплуатируется по всему миру, например: Университеты (ETH Цюрих, ТУ Дрезден, Венский университет) Научно-исследовательские институты (например, Институт Макса Планка, ICN2, IS2M) Промышленность (разработка материалов, фармацевтика, химия) Состояние: б/у Комплект поставки: (см. фото) (Возможны изменения и ошибки в технических данных! Все данные без гарантий!) По всем вопросам звоните – мы с радостью ответим.

Год выпуска: 2016, состояние: готов к работе (б/у), Доступна новая система рентгеновского контроля Anritsu. Мощность рентгеновского излучения: 100 Вт, макс. ширина обнаружения: 240 мм, макс. высота обнаружения: 120 мм, скорость обнаружения от 2 кг до 5 кг: 10 м-60 м/мин, скорость обнаружения до 2 кг: 60 м-90 м/мин, скорость обнаружения от 5 кг до 10 кг: 10 м-40 м/мин, материал корпуса: нержавеющая сталь, вес машины: прибл. 255 кг, время работы: менее 50 ч. На машине не обнаружено следов износа конвейерной ленты и радиационно-защитных штор. Документация доступна. Возможен выездной осмотр. Podpfx Aevzr Aujl Hogk