Bruker Bmcp купить подержанный (4)

Состояние: б/у, Снято с работающей установки. Ознакомьтесь также с нашими другими предложениями. Kdodpfxewxax Do Appok

Состояние: б/у, Брукер Тип: Тензор 27 ИК-спектрометр Полная гибкость выборки. Благодаря усовершенствованному механизму QuickLockTM и кнопке блокировки на передней панели Даже громоздкие аксессуары можно установить быстро и, что самое главное, безопасно. Кроме того, INVENIO может быть оснащен тремя программно-управляемыми выходами луча для различных внешних модулей. Kjdpfxjvwcike Appodk Микро- и макросъемка FPA Изменяемая внешняя камера для образцов (левая и правая) для индивидуальных экспериментов Волоконно-оптическое соединение с волоконными зондами для жидкостей и твердых тел интеграционная сфера Автосамплер для жидкостей модуль высокопроизводительного анализа HTS-XT блок отражения для границы раздела фаз воздух-вода Гораздо больше! Состояние: б/у Объем поставки: (см. рисунок) (Изменения и ошибки в технических данных, информация защищены!) Мы будем рады ответить на любые ваши дополнительные вопросы по телефону.

Состояние: б/у, Это предложение предназначено для масс-спектрометра Bruker microflex. Устройство находится в полностью рабочем состоянии и готово к немедленному использованию. Bruker microflex — это масс-спектрометр с лазерной десорбцией/ионизацией с матрицей и анализом времени пролёта ионов (MALDI-TOF MS), который в первую очередь используется для быстрой идентификации микроорганизмов, биомолекул (таких как белки и пептиды), а также полимеров. Данная модель входит в серию Bruker MALDI Biotyper. Ключевые компоненты: - Лазерный источник: азотный или твердотельный лазер (обычно 337 нм, УФ) - Ионный источник: вакуумная камера с мишенью MALDI - Дрейфовая трубка: измеряет время пролёта ионов - Детектор: преобразует время прихода ионов в масс-спектр - Мишень MALDI: металлическая пластина для нанесения образцов, смешанных с матрицей Принцип работы (упрощённо): Kdodpfxsxhdxqs Appsk 1. Подготовка образца: смешайте исследуемое вещество с матрицей MALDI (например, α-циано-4-гидроксикоричная кислота). 2. Лазерная ионизация: лазер воздействует на матрицу, ионизируя образец. 3. Ускорение ионов: ионы ускоряются в анализатор TOF. 4. Детектирование: измеряется время пролёта; меньшие ионы достигают детектора быстрее. 5. Спектр: строится график отношение масса/заряд (m/z) к интенсивности. Технические характеристики (приблизительно): - Габариты: настольный формат (ширина около 80 см) - Вес: ~100–120 кг (зависит от модели/версии) - Энергопитание: стандартное лабораторное электроснабжение - Требования к установке: чистое помещение с стабильной температурой и влажностью

Состояние: отличное состояние (б/у), Тип: Jeol JSM-6490 Jeol JSM-6490 сканирующий электронный микроскоп (PC-SEM) Современный высокоразрешающий цифровой сканирующий электронный микроскоп с новой разработанной электронной оптикой и интуитивно понятным графическим интерфейсом пользователя (GUI) под управлением Microsoft Windows XP Professional. Комплектация оборудования включает следующие характеристики: Диапазон увеличения: 5X – 300 000X Ускоряющее напряжение: 0,3 – 30 кВ Вольфрамовая остроконечная катода (опция: катода LaB6) Большой полностью моторизованный предметный стол с эксцентрическим наклоном, включая графическую навигацию по держателю образцов Простая навигация по образцам с помощью Click-Center-Zoom Навигация по полю изображения с помощью двух навигаторов Навигация по относительным координатам Сохранение и возврат к позициям образцов Регулируемое выделение области изображения предметного стола Коррекция поля изображения при вращении — компьютерно управляемая эксцентричная ротация Коррекция поля изображения при наклоне — компьютерно управляемый эксцентричный наклон Расчёт возможного угла наклона на основе геометрии образца Автоматическая фокусировка при перемещении образца по оси Z Интеллектуальные концевые выключатели для моторизованных осей Диапазоны перемещения предметного стола: x = 125 мм y = 100 мм z = 5 до 80 мм (плавная регулировка) T = -10°C до +90°C R = 360° (неограниченно) Детектор вторичных электронов для работы в высоком вакууме Новая суперкoническая объективная линза — высочайшее разрешение изображений даже при больших углах наклона Гарантированное разрешение в режиме SE: 3 нм при 30 кВ и 15 нм при 1 кВ Одновременное отображение изображений с нескольких детекторов в реальном времени Простая навигация по образцам с помощью Click-Center-Zoom Мощные функции измерения изображений Функция Movie для записи динамических процессов Универсальная камера для образцов с широкими возможностями расширения: свободные фланцы, например, для EDX, WDX, EBSD, катодолюминесценции и др. Система тихого, малошумного и практически не требующего обслуживания вакуумирования: предварительный насос, бесшумный высокоэффективный диффузионный насос и электромагнитное управление клапанами Широкие функции защиты от ошибок эксплуатации и отказа внешних источников Эргономичный, по высоте регулируемый системный стол Стартовый комплект SEM: 2 держателя для образцов, комплект инструментов и 6 запасных катодов Дополнительное оснащение сканирующего электронного микроскопа: Kedpfx Aomn Rcqjppsdk Турбомолекулярный насос вместо штатного диффузионного насоса При использовании турбомолекулярного насоса охлаждающая вода для работы SEM больше не требуется. Другое оснащение: ПК для управления SEM ЖК-монитор (TFT) ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX-System EXTENDED Программное обеспечение Bruker EDX будет передано новому владельцу после покупки! Безазотная энергодисперсионная рентгеновская система анализа, включая: SDD-детектор с энергией разрешения 127 эВ или лучше Обнаружение всех элементов, начиная с бора Бесшумный, не требующий обслуживания. Охлаждение Пельтье (без азота) Пульс-процессор ЖК-монитор (TFT) Измерение спектров и идентификация элементов Полностью автоматический количественный бесстандартный анализ элементов Импорт изображений Сверхбыстрое качественное линейное сканирование Сверхбыстрое качественное картирование элементов Система управления и архивирования данных Генерация отчетов и вывод результатов Обмен данными Установка и инструктаж HyperMap Multipoint-анализ Детектор Bruker xFlash (SDD) с блоком обработки сигн