Измерительный микроскоп HITEC QZW 1 250 x 170 мм

HITEC Messtechnik Messmikroskop QZW 1 M3 Software

Мы предлагаем здесь первоклассный измерительный микроскоп QZW 1 от HITEC, тип 250 x 170 мм.

ПО M3: автоматическое распознавание контуров, проверка допуска по DIN/ISO, просмотр элементов с вводом допусков, отображение деталей с нанесением размеров, отображение живого изображения во время измерения, дополнительное сохранение изображений для вашей документации.

Сенсорный ПК Dell с Windows 10 (может быть обновлён до версии 11)
Сертификат калибровки действителен до 31.07.2025

Диапазон измерения по осям X, Y: 250 x 170 мм
Погрешность измерения длины: 1,9 мкм + L/100 (L в мм)
Диапазон измерения по оси Z: 150 мм
Iedpfx Aaexwb Hqsmja
Измерительная система по оси Z: опционально
Камера: USB 3.0, 25 кадров/с, 2,0 мегапикселя
Объектив: фиксированный / опционально зум-объектив 0,7x - 4,5x (ручной/моторизованный)
Увеличение: 40x или 35x - 225x (с зум-объективом)
Поле зрения: 8 мм или 9 мм – 1,5 мм (с зум-объективом)
Освещение: четырёхсегментное светодиодное кольцо (опционально коаксиальное освещение)
Просвет: LED (опционально телецентрический)
Система позиционирования: лазерный указатель
Максимальная нагрузка на стол: 20 кг
Комплектация: QZW1, 23" сенсорный ПК, ПО M3, сертификат калибровки, руководство пользователя

Области применения:

Серия QZW1 поддерживает выполнение высокоточных воспроизводимых измерений сложных деталей из любых материалов. Благодаря широкому выбору опций, таких как зум-объектив, различные длины оси Z и различные размеры измерительных столов, модель QZW1 предоставляет все возможности для выполнения измерительных задач согласно требованиям конкретных деталей.

Объявление было переведено автоматически, в связи с чем могут иметь место некоторые ошибки перевода.