Сканирующий электронный микроскоп (PC-SEM)

Jeol JSM-6490 Bruker XFlash Detektor

Тип: Jeol JSM-6490
Jeol JSM-6490 сканирующий электронный микроскоп (PC-SEM)
Современный высокоразрешающий цифровой сканирующий электронный микроскоп
с новой разработанной электронной оптикой и интуитивно понятным графическим интерфейсом пользователя (GUI) под управлением Microsoft Windows XP Professional.
Комплектация оборудования включает следующие характеристики:
Диапазон увеличения: 5X – 300 000X
Ускоряющее напряжение: 0,3 – 30 кВ
Вольфрамовая остроконечная катода (опция: катода LaB6)
Большой полностью моторизованный предметный стол с эксцентрическим наклоном, включая графическую навигацию по держателю образцов
Dujdpfx Ajmn Rcqoc Hep
Простая навигация по образцам с помощью Click-Center-Zoom
Навигация по полю изображения с помощью двух навигаторов
Навигация по относительным координатам
Сохранение и возврат к позициям образцов
Регулируемое выделение области изображения предметного стола
Коррекция поля изображения при вращении — компьютерно управляемая эксцентричная ротация
Коррекция поля изображения при наклоне — компьютерно управляемый эксцентричный наклон
Расчёт возможного угла наклона на основе геометрии образца
Автоматическая фокусировка при перемещении образца по оси Z
Интеллектуальные концевые выключатели для моторизованных осей
Диапазоны перемещения предметного стола:
x = 125 мм
y = 100 мм
z = 5 до 80 мм (плавная регулировка)
T = -10°C до +90°C
R = 360° (неограниченно)
Детектор вторичных электронов для работы в высоком вакууме
Новая суперкoническая объективная линза — высочайшее разрешение изображений даже при больших углах наклона
Гарантированное разрешение в режиме SE: 3 нм при 30 кВ и 15 нм при 1 кВ
Одновременное отображение изображений с нескольких детекторов в реальном времени
Простая навигация по образцам с помощью Click-Center-Zoom
Мощные функции измерения изображений
Функция Movie для записи динамических процессов
Универсальная камера для образцов с широкими возможностями расширения: свободные фланцы, например, для EDX, WDX, EBSD, катодолюминесценции и др.
Система тихого, малошумного и практически не требующего обслуживания вакуумирования: предварительный насос, бесшумный высокоэффективный диффузионный насос и электромагнитное управление клапанами
Широкие функции защиты от ошибок эксплуатации и отказа внешних источников
Эргономичный, по высоте регулируемый системный стол
Стартовый комплект SEM: 2 держателя для образцов, комплект инструментов и 6 запасных катодов
Дополнительное оснащение сканирующего электронного микроскопа:
Турбомолекулярный насос вместо штатного диффузионного насоса
При использовании турбомолекулярного насоса охлаждающая вода для работы SEM больше не требуется.
Другое оснащение:
ПК для управления SEM
ЖК-монитор (TFT)
ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX-System EXTENDED
Программное обеспечение Bruker EDX будет передано новому владельцу после покупки!
Безазотная энергодисперсионная рентгеновская система анализа, включая:
SDD-детектор с энергией разрешения 127 эВ или лучше
Обнаружение всех элементов, начиная с бора
Бесшумный, не требующий обслуживания. Охлаждение Пельтье (без азота)
Пульс-процессор
ЖК-монитор (TFT)
Измерение спектров и идентификация элементов
Полностью автоматический количественный бесстандартный анализ элементов
Импорт изображений
Сверхбыстрое качественное линейное сканирование
Сверхбыстрое качественное картирование элементов
Система управления и архивирования данных
Генерация отчетов и вывод результатов
Обмен данными
Установка и инструктаж
HyperMap
Multipoint-анализ
Детектор Bruker xFlash (SDD) с блоком обработки сигн

Объявление было переведено автоматически. Возможны ошибки перевода.