Сканирующий электронный микроскоп (PC-SEM)Jeol
JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Сканирующий электронный микроскоп (PC-SEM)
Jeol
JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Фиксированная цена без учета НДС
35 000 €
Состояние
Бывшее в употреблении
Местоположение
Borken 

Показать изображения
Показать карту
Данные о машине
- Описание оборудования:
- Сканирующий электронный микроскоп (PC-SEM)
- Производитель:
- Jeol
- Состояние:
- отличное состояние (б/у)
Цена и местонахождение
Фиксированная цена без учета НДС
35 000 €
- Местоположение:
- Einsteinstraße 8a, 46325 Borken, Deutschland

Звонок
Детали предложения
- Код объявления:
- A10874957
- Справочный номер:
- 23543
- Последнее обновление:
- в 18.12.2025
Описание
Тип: Jeol JSM-6490
Jeol JSM-6490 сканирующий электронный микроскоп (PC-SEM)
Современный высокоразрешающий цифровой сканирующий электронный микроскоп
с новой разработанной электронной оптикой и интуитивно понятным графическим интерфейсом пользователя (GUI) под управлением Microsoft Windows XP Professional.
Комплектация оборудования включает следующие характеристики:
Диапазон увеличения: 5X – 300 000X
Ускоряющее напряжение: 0,3 – 30 кВ
Вольфрамовая остроконечная катода (опция: катода LaB6)
Большой полностью моторизованный предметный стол с эксцентрическим наклоном, включая графическую навигацию по держателю образцов
Простая навигация по образцам с помощью Click-Center-Zoom
Навигация по полю изображения с помощью двух навигаторов
Навигация по относительным координатам
Сохранение и возврат к позициям образцов
Регулируемое выделение области изображения предметного стола
Коррекция поля изображения при вращении — компьютерно управляемая эксцентричная ротация
Коррекция поля изображения при наклоне — компьютерно управляемый эксцентричный наклон
Расчёт возможного угла наклона на основе геометрии образца
Автоматическая фокусировка при перемещении образца по оси Z
Интеллектуальные концевые выключатели для моторизованных осей
Диапазоны перемещения предметного стола:
x = 125 мм
y = 100 мм
z = 5 до 80 мм (плавная регулировка)
T = -10°C до +90°C
R = 360° (неограниченно)
Детектор вторичных электронов для работы в высоком вакууме
Новая суперкoническая объективная линза — высочайшее разрешение изображений даже при больших углах наклона
Гарантированное разрешение в режиме SE: 3 нм при 30 кВ и 15 нм при 1 кВ
Одновременное отображение изображений с нескольких детекторов в реальном времени
Простая навигация по образцам с помощью Click-Center-Zoom
Мощные функции измерения изображений
Функция Movie для записи динамических процессов
Универсальная камера для образцов с широкими возможностями расширения: свободные фланцы, например, для EDX, WDX, EBSD, катодолюминесценции и др.
Система тихого, малошумного и практически не требующего обслуживания вакуумирования: предварительный насос, бесшумный высокоэффективный диффузионный насос и электромагнитное управление клапанами
Широкие функции защиты от ошибок эксплуатации и отказа внешних источников
Эргономичный, по высоте регулируемый системный стол
Стартовый комплект SEM: 2 держателя для образцов, комплект инструментов и 6 запасных катодов
Дополнительное оснащение сканирующего электронного микроскопа:
Турбомолекулярный насос вместо штатного диффузионного насоса
При использовании турбомолекулярного насоса охлаждающая вода для работы SEM больше не требуется.
Другое оснащение:
ПК для управления SEM
ЖК-монитор (TFT)
ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX-System EXTENDED
Программное обеспечение Bruker EDX будет передано новому владельцу после покупки!
Безазотная энергодисперсионная рентгеновская система анализа, включая:
SDD-детектор с энергией разрешения 127 эВ или лучше
Обнаружение всех элементов, начиная с бора
Бесшумный, не требующий обслуживания. Охлаждение Пельтье (без азота)
Пульс-процессор
Kdodpfx Acsmn Rcqo Hsg
ЖК-монитор (TFT)
Измерение спектров и идентификация элементов
Полностью автоматический количественный бесстандартный анализ элементов
Импорт изображений
Сверхбыстрое качественное линейное сканирование
Сверхбыстрое качественное картирование элементов
Система управления и архивирования данных
Генерация отчетов и вывод результатов
Обмен данными
Установка и инструктаж
HyperMap
Multipoint-анализ
Детектор Bruker xFlash (SDD) с блоком обработки сигн
Объявление было переведено автоматически, в связи с чем могут иметь место некоторые ошибки перевода.
Jeol JSM-6490 сканирующий электронный микроскоп (PC-SEM)
Современный высокоразрешающий цифровой сканирующий электронный микроскоп
с новой разработанной электронной оптикой и интуитивно понятным графическим интерфейсом пользователя (GUI) под управлением Microsoft Windows XP Professional.
Комплектация оборудования включает следующие характеристики:
Диапазон увеличения: 5X – 300 000X
Ускоряющее напряжение: 0,3 – 30 кВ
Вольфрамовая остроконечная катода (опция: катода LaB6)
Большой полностью моторизованный предметный стол с эксцентрическим наклоном, включая графическую навигацию по держателю образцов
Простая навигация по образцам с помощью Click-Center-Zoom
Навигация по полю изображения с помощью двух навигаторов
Навигация по относительным координатам
Сохранение и возврат к позициям образцов
Регулируемое выделение области изображения предметного стола
Коррекция поля изображения при вращении — компьютерно управляемая эксцентричная ротация
Коррекция поля изображения при наклоне — компьютерно управляемый эксцентричный наклон
Расчёт возможного угла наклона на основе геометрии образца
Автоматическая фокусировка при перемещении образца по оси Z
Интеллектуальные концевые выключатели для моторизованных осей
Диапазоны перемещения предметного стола:
x = 125 мм
y = 100 мм
z = 5 до 80 мм (плавная регулировка)
T = -10°C до +90°C
R = 360° (неограниченно)
Детектор вторичных электронов для работы в высоком вакууме
Новая суперкoническая объективная линза — высочайшее разрешение изображений даже при больших углах наклона
Гарантированное разрешение в режиме SE: 3 нм при 30 кВ и 15 нм при 1 кВ
Одновременное отображение изображений с нескольких детекторов в реальном времени
Простая навигация по образцам с помощью Click-Center-Zoom
Мощные функции измерения изображений
Функция Movie для записи динамических процессов
Универсальная камера для образцов с широкими возможностями расширения: свободные фланцы, например, для EDX, WDX, EBSD, катодолюминесценции и др.
Система тихого, малошумного и практически не требующего обслуживания вакуумирования: предварительный насос, бесшумный высокоэффективный диффузионный насос и электромагнитное управление клапанами
Широкие функции защиты от ошибок эксплуатации и отказа внешних источников
Эргономичный, по высоте регулируемый системный стол
Стартовый комплект SEM: 2 держателя для образцов, комплект инструментов и 6 запасных катодов
Дополнительное оснащение сканирующего электронного микроскопа:
Турбомолекулярный насос вместо штатного диффузионного насоса
При использовании турбомолекулярного насоса охлаждающая вода для работы SEM больше не требуется.
Другое оснащение:
ПК для управления SEM
ЖК-монитор (TFT)
ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX-System EXTENDED
Программное обеспечение Bruker EDX будет передано новому владельцу после покупки!
Безазотная энергодисперсионная рентгеновская система анализа, включая:
SDD-детектор с энергией разрешения 127 эВ или лучше
Обнаружение всех элементов, начиная с бора
Бесшумный, не требующий обслуживания. Охлаждение Пельтье (без азота)
Пульс-процессор
Kdodpfx Acsmn Rcqo Hsg
ЖК-монитор (TFT)
Измерение спектров и идентификация элементов
Полностью автоматический количественный бесстандартный анализ элементов
Импорт изображений
Сверхбыстрое качественное линейное сканирование
Сверхбыстрое качественное картирование элементов
Система управления и архивирования данных
Генерация отчетов и вывод результатов
Обмен данными
Установка и инструктаж
HyperMap
Multipoint-анализ
Детектор Bruker xFlash (SDD) с блоком обработки сигн
Объявление было переведено автоматически, в связи с чем могут иметь место некоторые ошибки перевода.
Поставщик
Примечание: Зарегистрируйтесь бесплатно или войдите в систему, чтобы получить доступ ко всей информации.
Отправить заявку
Телефон & Факс
+49 2861 ... объявления
Вам могут быть интересны и еще и эти объявления.
Малое объявление
Германия
5 521 km
Портативный анализатор ближнего инфракрасного диапазона
Polychromix PhazirNIR-Spektrometer Model: 1624
Polychromix PhazirNIR-Spektrometer Model: 1624
Малое объявление
Канада
6 667 km
Зубоизмерительная машина
KLINGELNBERG-OERLIKONCS 200
KLINGELNBERG-OERLIKONCS 200
Малое объявление
Subotica
5 433 km
сварочный аппарат
Laser TIG wire feeder with AC servo motoLaser TIG wire feeder with AC servomotor
Laser TIG wire feeder with AC servo motoLaser TIG wire feeder with AC servomotor
Малое объявление
Kirchenlamitz
5 447 km
Роликовый конвейер
Малое объявление
Saarbrücken
5 752 km
Оптическая измерительная машина Multisensor
MahrMS2VT Refurbished mit Garantie
MahrMS2VT Refurbished mit Garantie
Малое объявление
Pesaro
5 958 km
Пескоструйная машина
DE LAURENTIIS100 TS
DE LAURENTIIS100 TS
Малое объявление
Mala Vranjska
5 553 km
Камера копчения
Maurerfor 2 trollies
Maurerfor 2 trollies
Малое объявление
Borken
5 521 km
цифровой сканирующий электронный микроскоп
ZeissDSM 962
ZeissDSM 962
Малое объявление
Ukmergė
4 446 km
Автоматизированный диспенсер для поддонов, штабелер
UMP TechnikaPD-10
UMP TechnikaPD-10
Малое объявление
Wald
5 766 km
Спектрометр
Varian640-IR FT-IR
Varian640-IR FT-IR
Ваше объявление было успешно удалено
Произошла ошибка















































































































