Сканирующий электронный микроскоп (PC-SEM)Jeol
JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Сканирующий электронный микроскоп (PC-SEM)
Jeol
JSM-6490 Bruker XFlash Detektor
Фиксированная цена без учета НДС
35 000 €
Состояние
Бывшее в употреблении
Местоположение
Borken 

Показать изображения
Показать карту
Данные о машине
- Описание оборудования:
- Сканирующий электронный микроскоп (PC-SEM)
- Производитель:
- Jeol
- Состояние:
- отличное состояние (б/у)
Цена и местонахождение
Фиксированная цена без учета НДС
35 000 €
- Местоположение:
- Einsteinstraße 8a, 46325 Borken, DE
Звонок
Детали предложения
- Код объявления:
- A10874957
- Справочный номер:
- 23543
- Последнее обновление:
- в 15.11.2024
Описание
Предлагаем вашему вниманию сканирующий электронный микроскоп Jeol.
Сканирующий электронный микроскоп Jeol JSM-6490 (PC-SEM)
Современный цифровой сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения
с недавно разработанной электронной оптикой и интуитивно понятным
графическим интерфейсом пользователя (GUI) под управлением Microsoft WindowsXP Professional.
Диапазон увеличения: 5 X - 300 000 X
Ускоряющее напряжение 0,3 - 30 кВ
Вольфрамовый катод со шпильками (катод LaB6 опционально)
большой, полностью моторизованный штатив для образцов с эксцентриком
наклоном, вкл.
Графическая навигация на держателе образца
Простая навигация по образцу с помощью центрального зума
Навигация по полю изображения с помощью 2 навигаторов
Навигация по относительным координатам
Сохранение и перезапуск позиции образца
Регулируемое перемещение столика с образцами
Коррекция поля при вращении с помощью управляемого компьютером эвцентрического вращения
эксцентрическое вращение
Коррекция поля изображения при наклоне с помощью компьютерного управления
управляемый эвцентрический наклон
Расчет возможного угла наклона на основе
геометрия образца
автоматическое слежение за фокусом при перемещении образца в
образец по оси Z
Интеллектуальные концевые выключатели для моторизованных осей
Ход ступени для образца:
x=125мм
Y=100 мм
z= 5 - 80 мм (непрерывно)
T= от -10°C до + 90°C
R= 360°C (бесконечно)
Детектор вторичных электронов для работы в высоком вакууме
Новая сверхконическая объективная линза гарантирует высочайшее разрешение изображения
разрешение даже при больших углах наклона
Гарантированное разрешение в SE изображении: 3 нм при 30 кВ и
15 нм при 1 кВ
Одновременное отображение изображений нескольких детекторов в реальном времени
Удобная навигация по образцу с помощью функции Cllck Centre Zoom
Мощные функции измерения изображения
Hsdpfxomn Rcqe Aaaonu
Функция видеосъемки для записи динамических процессов
Универсальная камера для образцов с многочисленными
свободными фланцами, например, для EDX, WDX,
EBSD, катодолюминесценции и т.д.
Малообслуживаемая и малоизнашиваемая, бесшумная насосная система
состоящая из подкачивающего насоса, не подверженного вибрации высокоэластичного диффузионного насоса
и электромагнитного управления клапаном
Обширная защита от ошибок при неправильной работе
и выхода из строя внешних сред
Эргономичный, регулируемый по высоте системный стол
Стартовый комплект REM, состоящий из 2 держателей образцов,
набор инструментов и 6 запасных катодов
Дополнительное оборудование
2x ΜΡ-43100 (TMP)
Турбомолекулярный насос
вместо стандартного диффузионного насоса
При использовании турбомолекулярного насоса охлаждающая вода больше не
для работы РЭМ больше не требуется охлаждающая вода.
Дополнительное оборудование:
ПК для управления РЭМ
вкл. TFT-монитор
ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX система EXTENDED
Система энергодисперсионного рентгеновского анализа без азота.
вкл:
SDD-детектор с энергетическим разрешением 127 эВ или лучше.
Обнаружение всех элементов, начиная с бора
Без вибрации, не требует технического обслуживания. Охлаждение Пельтье (без азота)
Импульсный процессор
TFT монитор
Измерение спектра и элементное разложение
Полностью автоматический, количественный, свободный от стандартов
элементный анализ
Получение изображений
Сверхбыстрый качественный LIneScan
Сверхбыстрое качественное картирование элементов
Система управления данными и архивирования
Формирование отчетов и вывод результатов
Передача данных
Установка и обучение
HyperMap
Многоточечный анализ
Bruker xFlash Detect
Объявление было переведено автоматически, в связи с чем могут иметь место некоторые ошибки перевода.
Сканирующий электронный микроскоп Jeol JSM-6490 (PC-SEM)
Современный цифровой сканирующий электронный микроскоп высокого разрешения
с недавно разработанной электронной оптикой и интуитивно понятным
графическим интерфейсом пользователя (GUI) под управлением Microsoft WindowsXP Professional.
Диапазон увеличения: 5 X - 300 000 X
Ускоряющее напряжение 0,3 - 30 кВ
Вольфрамовый катод со шпильками (катод LaB6 опционально)
большой, полностью моторизованный штатив для образцов с эксцентриком
наклоном, вкл.
Графическая навигация на держателе образца
Простая навигация по образцу с помощью центрального зума
Навигация по полю изображения с помощью 2 навигаторов
Навигация по относительным координатам
Сохранение и перезапуск позиции образца
Регулируемое перемещение столика с образцами
Коррекция поля при вращении с помощью управляемого компьютером эвцентрического вращения
эксцентрическое вращение
Коррекция поля изображения при наклоне с помощью компьютерного управления
управляемый эвцентрический наклон
Расчет возможного угла наклона на основе
геометрия образца
автоматическое слежение за фокусом при перемещении образца в
образец по оси Z
Интеллектуальные концевые выключатели для моторизованных осей
Ход ступени для образца:
x=125мм
Y=100 мм
z= 5 - 80 мм (непрерывно)
T= от -10°C до + 90°C
R= 360°C (бесконечно)
Детектор вторичных электронов для работы в высоком вакууме
Новая сверхконическая объективная линза гарантирует высочайшее разрешение изображения
разрешение даже при больших углах наклона
Гарантированное разрешение в SE изображении: 3 нм при 30 кВ и
15 нм при 1 кВ
Одновременное отображение изображений нескольких детекторов в реальном времени
Удобная навигация по образцу с помощью функции Cllck Centre Zoom
Мощные функции измерения изображения
Hsdpfxomn Rcqe Aaaonu
Функция видеосъемки для записи динамических процессов
Универсальная камера для образцов с многочисленными
свободными фланцами, например, для EDX, WDX,
EBSD, катодолюминесценции и т.д.
Малообслуживаемая и малоизнашиваемая, бесшумная насосная система
состоящая из подкачивающего насоса, не подверженного вибрации высокоэластичного диффузионного насоса
и электромагнитного управления клапаном
Обширная защита от ошибок при неправильной работе
и выхода из строя внешних сред
Эргономичный, регулируемый по высоте системный стол
Стартовый комплект REM, состоящий из 2 держателей образцов,
набор инструментов и 6 запасных катодов
Дополнительное оборудование
2x ΜΡ-43100 (TMP)
Турбомолекулярный насос
вместо стандартного диффузионного насоса
При использовании турбомолекулярного насоса охлаждающая вода больше не
для работы РЭМ больше не требуется охлаждающая вода.
Дополнительное оборудование:
ПК для управления РЭМ
вкл. TFT-монитор
ΟΧ200 Bruker Quantax 200 EDX система EXTENDED
Система энергодисперсионного рентгеновского анализа без азота.
вкл:
SDD-детектор с энергетическим разрешением 127 эВ или лучше.
Обнаружение всех элементов, начиная с бора
Без вибрации, не требует технического обслуживания. Охлаждение Пельтье (без азота)
Импульсный процессор
TFT монитор
Измерение спектра и элементное разложение
Полностью автоматический, количественный, свободный от стандартов
элементный анализ
Получение изображений
Сверхбыстрый качественный LIneScan
Сверхбыстрое качественное картирование элементов
Система управления данными и архивирования
Формирование отчетов и вывод результатов
Передача данных
Установка и обучение
HyperMap
Многоточечный анализ
Bruker xFlash Detect
Объявление было переведено автоматически, в связи с чем могут иметь место некоторые ошибки перевода.
Поставщик
Примечание: Зарегистрируйтесь бесплатно или войдите в систему, чтобы получить доступ ко всей информации.
Отправить заявку
Телефон & Факс
+49 2861 ... объявления
Ваше объявление было успешно удалено
Произошла ошибка